超高精度Mprobe 有機薄膜厚度測量儀基于光譜反射原理，即在一定的波長光波下，通過追蹤被帶有層狀結構的基片反射和/或投射的光速來實現測量膜層厚度。測量薄膜厚度范圍可達1nm-1000um.一般20ms可以得到測量結果。而且超高精度Mprobe薄膜測厚儀尺寸非常小巧，8＂x　4＂x　10＂．超過精度Mprobe 有機薄膜厚度測量儀非常適合實驗室，產品質量檢驗，研發使用。

超高精度MProbe 有機薄膜厚度測量儀特點：

應用廣泛：

（1）太陽能光伏薄膜領域：aSi,TCO,CIGS,CdS ,CdTe

（2）LCD,FPD領域：ITO ,Cell Gaps,Polyamides

（3）光學薄膜領域：光學涂層，介質濾波器，加硬膜，減反射膜

（4）半導體和電解質領域：氧化物，氮化物，OLED stack

實時測量和數據分析，多層，薄，厚，獨立和不均勻層

豐富的材料庫：已經有500多種常用的材料參數，新材料也容易添加，并能根據需要添加相應材料特性參數-Cauchy,Tauc- Lorentz,Cody-Lorentz,EMA 等。

靈活性：鏈接方便，使用自如：不管是在實驗室獨立使用，還是在研發或者是工廠連續生產中不間斷在線持續監測膜層，都能在10分鐘內完成安裝，與電腦或是網絡的連接十分方便。

測量數據完整性 除了膜層的厚度，還能測量光學參數和表面平整度。

使用人性化，功能強大 一鍵式操作即可完成膜層厚度測量和分析；強大的工具-仿真能力，內部自我糾正，多樣品測量，動態監測和產品批量監測。

如果您對這款產品感興趣的話，請致電：18916043666